Pentru a calcula probabilitatea de defectare a rezistenței, se vor utiliza următorii coeficienți:
KR este un coeficient care depinde de valoarea nominală a rezistenței și scade odată cu creșterea rezistenței nominale a elementului.
KM este un coeficient care depinde de valoarea puterii nominale a elementului și crește odată cu creșterea puterii maxime disipate pe element.
Coeficientul KE, în funcție de rigiditatea condițiilor de funcționare.
KP - coeficientul modului de funcționare, în funcție de sarcina electrică și de temperatura corpului elementului.
Pentru a calcula probabilitatea de defectare a condensatoarelor, se vor utiliza următorii coeficienți:
Coeficientul KC, în funcție de valoarea capacității nominale a elementului și în creștere cu creșterea capacității.
Coeficientul KE, în funcție de rigiditatea condițiilor de funcționare.
KP - coeficientul modului de funcționare, în funcție de sarcina electrică și de temperatura corpului elementului.
Pentru a calcula probabilitatea de defectare a ansamblurilor diodelor și tranzistoarelor se vor utiliza factori precum:
Coeficientul KF, luând în considerare modul funcțional al dispozitivului.
KD - coeficient, în funcție de valoarea sarcinii maxime admise de putere.
KU - coeficient, în funcție de raportul dintre tensiunea de funcționare și maximul admisibil.
Coeficientul KE, în funcție de rigiditatea condițiilor de funcționare.
KP - coeficientul modului de funcționare, în funcție de sarcina electrică și de temperatura corpului elementului.
Pentru a calcula probabilitatea de eșec al conexiunilor prin lipire cu val, se va utiliza coeficientul:
Coeficientul KE, în funcție de rigiditatea condițiilor de funcționare.
Valorile numerice ale coeficienților necesari pentru calcularea funcționării fără probleme a dispozitivului sunt prezentate în tabelul 3.1.
Tabelul 3.1 - Coeficienții de încărcare a elementelor